全新的驱动
在过去的1年中，对于nVidia在显卡驱动中是否做了特别优化人们进行了有些激烈的争论，这次nVidia希望通过新驱动避免这种情况。在nVidia提供的新驱动中， 默认设定就是采用优化过的各向异性以及三线过滤设定，不过这次他们允许用户将这些特性关闭。三线性过滤优化模式可以关闭，而全新的“High Quality”模式则关闭了自适应各向异性过滤。
不过不幸的是，这次nVidia在各向异性过滤中似乎采用了加权的Weighted Manhattan（曼哈顿加权）算法，而不是之前选用的Euclidean distance（欧几里德距离）算法，对于物体表面的方向更为敏感了：
#$[*154628.jpg*#旧驱动中的各向异性过滤*#0*#0*#center*]$#
#$[*154629.jpg*#60.72版驱动中的各向异性过滤*#0*#0*#center*]$#
#$[*154630.jpg*#ATi的各向异性过滤*#0*#0*#center*]$#
采用了新的各向异性过滤算法，nVidia的显卡在开启特效后的性能损失减少了。这个新算法似乎也就是ATi一直采用的，当角度、纹理和表面围绕Z轴旋转时，ATi和nVidia同样出现了起伏现象。下面的两张图是我们通过D3D AF Tester软件对“三线性过滤优化”选项进行的演示，区别很明显：
#$[*154631.jpg*#开启三线性过滤优化*#0*#0*#center*]$#
#$[*154633.jpg*#关闭三线性过滤优化*#0*#0*#center*]$#
不过“Quality”和“High Quality”两种模式之间的差别就没有那么明显了：
#$[*154635.jpg*#“Quality”模式*#0*#0*#center*]$#
#$[*154637.jpg*#a*#0*#0*#center*]$#
在NV40的多重采样中，NVIDIA第一次启用了rotatedgrid subpixel pattern（旋转栅格抗锯齿）技术。在进行多重采样的时候，纹理的取样点是位于像素的正中位置，如果三角形没有覆盖到像素正中心，以往的处理方式就是把三角形“外推”到像素的中央来取样，这样的方式显然不能使用于所有的场合，容易产生错误的纹理取样导致画面渲染错误。质心取样则能把像素的纹理取样点“推”到覆盖着它的三角形内部，获得正确的纹理单元的色彩值。对于nVidia旋转栅格抗锯齿抗锯齿方式，我们通过《Jedi Knight：Jedi Academy》来看看具体效果：
#$[*154638.jpg*#未开启抗锯齿*#0*#0*#center*]$#
#$[*154641.jpg*#开启4×抗锯齿*#0*#0*#center*]$#
我们很高兴的看到nVidia的抗锯齿画面也开始横平竖直了。
